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波前分析儀

高分辨率相位成像相機相位波前角色散測量儀高靈敏度等離子體分析儀SID4-V真空兼容波前分析儀活細胞定量相位成像相機超低讀出噪聲高速波前傳感器高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀/波前探測器 顯示全部
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高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀/波前探測器

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高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀/波前探測器

所屬類別:激光量測設備 ? 波前分析儀

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產品負責人:

姓名:陳工(Jack)

電話:186 2116 1680(微信同號)

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高分辨率波前分析儀/波前傳感器/波前相差儀/波前探測器


400X300高分辨率、500um高動態范圍、高性價比、同時檢測波前與M^2波前傳感器!


關鍵詞:波前傳感器、波前分析儀、波前像差儀、傳感器、波前測試儀、波前探測器、激光波前分析儀、哈特曼波前分析儀、虹膜定位、哈特曼波前傳感器、波前象差、高分辨率波前分析儀、波前測量儀、激光光束及波前分析儀、夏克 哈特曼、鏡頭MTF


法國PHASICS公司自主研發的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術。SID4系列波前分析儀相較傳統的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態檢測范圍、操作簡便等獨特的優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案!PHASICS波前探測器配套的軟件界面友好,可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強度分布圖。


法國PHASICS波前傳感器生產廠家具有雄厚的技術研發實力,能為客戶提供的各種自適應光學系統OA-SYS(Adaptive Optics Loops),制定個性化解決方案。可根據客戶的應用需求,為客戶推薦合適的SID4波前傳感器、可變形鏡或空間光調制器、自適應光學系統操作軟件等。


圖1 波前校正前與校正后對比

 


PHASICS波前探測器依據其四波橫向剪切干涉技術,對哈特曼掩模技術進行了大的升級、改進。PHASICS波前傳感器將400X300的超高分辨率和500um的超大動態范圍完美結合在了一起。可以滿足不同的客戶的應用需求,可對激光光束進行光強、位相、PSF(點擴散函數)、MTF(調制傳遞函數)、OTF(光學傳遞函數)、波前像差、M^2等進行實時、簡便、快速的測量。

 


第一部 產品介紹


SID4 UV-HR高分辨紫外波前傳感器

PHASICS公司將 SID4的波前測量波長范圍擴展到190nm-400nmSID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前傳感器,非常適用于光學元件測量(例如印刷、半導體等等)和表面檢測(半導體晶片檢測等)。


特點:

分辨率(250x250

通光孔徑大(8.0mmx8.0mm)

覆蓋紫外光譜

靈敏度高(0.5um)

優化信噪比


圖2 SID4-UV波前分析儀

 


SID4 波前傳感器


可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、強度分布,波前像差,激光的M2,澤尼克參數等進行實時的測量及參數輸出。


特點:

波長范圍:400-1100nm

分辨率高(160x120)

消色差

測量穩定性高

對震動不敏感

結構緊湊,體積小

可用筆記本電腦控制


圖3 SID4位相檢測

 


SID4-HR 波前相差儀


可用于檢測各種透鏡,光學系統的檢測,可以對透鏡、光學系統的進行實時的PSF(點擴散函數)、MTF(調制傳遞函數)、OTF(光學傳遞函數)、波前像差測量及參數輸出。相對于傳統的透鏡檢測設備像:傳函儀、干涉儀,具有操作簡便,測量精度高,參數輸出方便等優點,正在被越來越多的客戶推崇。


特點:

波長范圍:400-1100nm

高性能的相機,信噪比高

實時測量,立即給出整個物體表面的信息(120000個測量點)

曝光時間極短,保證動態物體測量

操作簡單


圖4 SID4-HR


圖5 SID4-HR傳遞函數檢測



SID4 NIR 波前分析儀


主要針對1550 nm1.5um-1.6um)激光的檢測,具有分辨率高高靈敏度、高動態范圍、操作簡便等獨特的優勢。可用于光學測量,SID4 NIR是測量紅外物體和紅外透鏡像差、PSFMTF和焦距及表面質量的理想工具。


特點:

高分辨率(160x120)

快速測量

性價比高

測量

對振動不敏感


圖6 SID4 NIR激光波前檢測

 


SID4 DWIR 波前儀


具有寬波段測量的特點。可以實時的檢測3-5um8-14um的波前位相,強度分布等響應的波前信息。可以很好的滿足紅外波段客戶的波前檢測需求。


特點:

光學測量:SID4 DWIR是測量紅外物體特性(熱成像和安全視覺)或紅外透鏡(CO2激光器)的理想工具,輸出結果包括MTF,PSF,像差,表面質量和透鏡焦距。

光束測量:(CO2激光器,紅外OPO激光光源等等)SID4 DWIR提供詳盡的光束特性參數:像差,M2,光強分布,光束特性等

高分辨率(96x72)

可實現測量

可覆蓋中紅外和遠紅外波段 大數值孔徑測量,無需額外中轉透鏡

快速測量 對振動不敏感

可實現離軸測量

性價比高


7SID4 DWIR



SID4產品型號參數匯總


型號

SID4

SID4-HR

SID4 UV-HR

SID4 NIR

SID4 DWIR

SID4-SWIR

孔徑尺寸(mm2

3.6 x4.8

8.9 x11.8

8.0 x8.0

3.6x4.8

13.44x10.08

9.6x7.68

空間分辨率(um)

29.6

29.6

32

29.6

140

120

測量點數

160x120

300x400

250x250

160x120

96x72

80X64

波長范圍

350-1100 nm

350-1100 nm

190-400 nm

1.5-1.6μm

3-5μm  8-14μm

0.9- 1.7μm

精準度

10nm RMS

10nm RMS

10nm RMS

>15nm RMS

75nm RMS

10nm RMS

動態范圍

>100μm

>500μm

>200um

>100μm

/

~100μm

采樣速度

60 fps

10 fps

30 fps

60 fps

50 fps

60fps

處理速度

>10fps

>3 fps

1fps

<10fps

20 Hz

>10Hz

 

 

第二部 控制軟件


 

SID4波前分析儀控制軟件


SID4波前分析儀控制軟件與SID4 波前傳感器配套提供的是一款完整的分析軟件,其集成了高分辨率的相位圖與強度分布圖,測量光強分布和波前信息。


借助Labview和C++ 可編程模塊數據庫(軟件二次開發工具包),客戶能夠根據自身的需要編寫各種相位測量與編譯模塊。


Adaptive Optics Loops將SID4 Wavefront Sensor結合您的應用,選配合適的可變形鏡或相位調制器,提供整套的自適應光學系統。減小任何一個光學系統的相差從來都不是簡單的,我們的產品能為激光光束和成像系統帶來更可靠,高精度的解決方案。



圖8 SID4控制界面



SID4光學測量軟件Kaleo


Phasics基于剪切干涉的波前傳感器與專門設計的光學測量軟件Kaleo結合,可以測量球面鏡和非球面鏡的像差及MTF等信息。只需要幾秒鐘,我們的儀器為您呈現絕大部分的光學參數,如焦距,光腰,MTF,像差,Zernike系數,曲率半徑,PSF等。

 



第三部 與傳統哈特曼波前分析儀比較



與傳統哈特曼波前傳感器測量結果對比:

 


技術參數對比:



PHASICS

Shack-Hartmann

區別

技術

剪切干涉

微透鏡陣列

PHASICS投放市場時,是對夏克-哈特曼技術的升級

重建方式

傅里葉變換

分區或模式法

夏克-哈特曼波前探測器,局域導數以微透鏡單元區域的平均值來近似,誤差大

強度

對強度變化不敏感

對強度變化靈敏

PHASICS測量精度高,波前測量不依賴于強度水平

校準

用針孔校準、方便快捷

安裝困難,需要精密的調節臺

PHASICS使用方便

取樣點

SID4-HR300X400測量點

128X128測量點(多個微透鏡)

PHASICS具有更高的分辨率

數值孔徑

NA0.5

NA0.1

PHASICS動態范圍更高

分辨率

29.6μm

115μm

PHASICS具有更高的空間分辨率

測量精度

2nm RMS

5nm RMS

PHASICS更好的測量精度

獲取頻率

60fps

30fps

PHASICS獲取速度快

處理頻率

>10Hz

30Hz

PHASICS可滿足大部分處理要求

消色差

無需對每個波長進行校準

需要在每個波長處校正

PHASICS更靈活,可以測試寬波段,而不需要校準

 


第四部 應用領域


激光、天文、顯微、眼科等復雜自適應光學系統波前像差檢測

激光光束性能、波前像差、M^2、強度等的檢測

紅外、近紅外探測

平行光管/望遠鏡系統的檢測與裝調

衛星遙感成像、生物成像、熱成像領域

球面、非球面光學元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡)

虹膜定位像差引導

大口徑高精度光學元器件檢測

激光通信領域

航空航天領域



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